A所有组分峰变小
可能原因 建议措施
1进样针缺陷 使用新针或无缺陷的针
2进样后漏夜 判断漏夜点，维修之
3 MAE UP过大：分流比过大 调整气体流速和分流比
4 分析物质分子量过大，底挥发样品时 提高INJ。OVEN（主要柱子的最高使
样品的汽化温度过低，或柱温度低 用温度）
5 NPD被污染物（二氧化硅）覆盖 更换铷珠
6NPD温度过高（使用或环境温度），气体不纯 更换铷珠：避免高温使用
7不分流进样，分流阀关闭快：初始OVEN温高
8 检测器与样品不匹配
9样品的挥发 调整样品的的浓度或选择合适的溶剂
B峰伸舌
峰伸舌多右色谱柱过载 减小进样量(可能需提高仪器的sensitivty
使用大容量柱子：提高OVEN，INJ温度：
增大气体流速
C峰高峰面积不重复
1进样不重复，偏差大 自动进样器：加强手动进样的练习
2其他峰型变化引起的峰错位，干扰
3基线的干扰
仪器系统参数设定的改变 参数标准化，规范化
D负 峰
1 Detector有数据处理系统信号极性接反 信号连接倒置
2 TCD中，样品导热系数大于载气导热系数 选择数据处理中的“负峰处理”
3 ECD被污染，可能在正峰后跟随负峰 清洗ECD，更换之（若有必要）
E样品的检测灵敏度下降
1色谱柱，衬管被污染，使活性物质灵敏度小将 清洗衬管：用溶剂（优级纯甲醇）清洗色谱柱：更换之（如有必要）
2进样时样品渗漏（对易挥发物质更甚） 查找渗漏点
3 在splite汽化进样中，OVEN初始温度过高 用低于样品溶剂的初始温度；致使样品汽化后扩散加剧，导致撕沸点样品灵敏度下降 使用高沸点溶剂
F 峰分叉
1 进样过激，不稳定，形成二次进样 练习手动进样：使用自动进样器
2色谱柱安装失败 重新安装
3 spliteless或柱头进样，样品溶剂的混合 使用相同的溶剂
4柱子温度波动 修理稳控系统
5 spliteless进样，量大，时间长。希望用“溶剂 在毛细管色谱柱前端安装5米的去
效应“谱带浓缩时，溶剂的固定相的湿润性差 活化，未覆盖固定液的毛细管
溶剂将在柱子中形成几米长，厚度不等的溶剂带
破坏正常的浓缩，使峰拉宽分叉
J 峰拖尾
1衬管，色谱柱被污染；有活性点 清洗，更换之 （如有必要）
2衬管，色谱柱安装不党，存在死体积 注射甲烷，峰若拖尾，则重新安装
3色谱柱柱头不平 用金刚砂切割，使之平
4固定相的极性指标与样品分析不匹配 换匹配的柱子
5 样品流通路线中有冷井 消除路线中的过低温度区
6衬管或色谱柱中有堆积切割碎屑 清洗更换衬管；切除柱头10cm
7 进样时间过长 缩短之
8分流比低 增大分流比（至少大于20/1）
9进样量过高 减小进样体积或稀释样品
10 醇胺，伯胺，叔胺和羧酸类易拖尾 用极性大的色谱柱；样品衍生处理
H保留时间漂移
1 温度变化 检查柱温箱的温度
2气体流速变化 注射甲烷，测定载气线速度
3进样口泄露 检查进样垫；判断其他泄露处
4溶剂条件变化 样品，标准品使用相同的溶剂
5色谱柱被污染 切除柱头10cm；高温老化，清洗

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