4 电离干扰及消除方法
某些易电离的元素在火焰中电离而使参与原子吸收的基态原子数减少，导致吸光度下降，而且使工作曲线随浓度的增加向纵轴弯曲。元素在火焰中的电离度与火焰温度和该元素的电离电位有密切的关系。火焰温度越高，元素的电离电位越低，则电离度越大。因此电离干扰要发生于电离电位较低的石金属和碱土金属。另外，电离度随金属元素总浓度的增加而减小，故工作曲线向纵轴弯曲。提高火焰中离子的浓度、降低电离度是消除电离干扰的最基本途径。最常用的方法是加入消电离剂。一般消电离剂的电离位越低越好。有时加入的消电离剂的电离电位比待测元素的电离电位还高，但由于加入的浓度较大，仍可抑制电离干扰。利用富燃火焰也可抑制电离干扰，由燃烧不充分的碳粒电离，使火焰中离子浓度增加。利用温度较低的火焰，降低电离度，可消除电离干扰。提高溶液的吸喷速率也可降低电离干扰，原因是火焰中溶液量的增加，因蒸发而耗大量的热使火焰温度降低。此外，标准加入法也可在一定程度上消除某些电离干扰。
5 化学干扰
是指试样溶液转化为自由基态原子的过程中，待测元素和其它组分之间化学作用而引起的干扰效应。它主要影响待测元素化合物的熔融、蒸发和解离过程。这种效应可以是正效应，增强原子吸收信号，也可以是负效应，降低原子吸收信号。化学干扰是一种选择性干扰，它不仅取决于待测元素与共存元素的性质，还和火焰类型、火焰温度、火焰状态、观察部位等因素有关。化学干扰是火焰原子吸收分析中干扰的主要来源，其产生的原因是多方面的。这里就不再讲座这个问题。我们主要讨论一下消除化学干扰的主要方法，由于化学干扰的复杂性，目前仍无一种通用的消除这种干扰的方法。需针对特定的样品、待测元素和实验条件进行具体的分析。主要采用的有以下几种：
5.1利用高温火焰
火焰温度直接影响着样品的熔融、蒸发和解离过程。许多在低温火焰中出现的干扰在高温火焰中可以部分或完全的消除。
5.2利用火焰气氛
对于易形成难熔、难挥发氧化物的元素，如果使用还原性气氛很强的火焰，则有利于这些元素的原子化。显然，既提高火焰温度又利用火焰气氛，对于消除待测元素与共存元素之间因形成难熔、难挥发、难解离的化合物所产生的干扰则更加有利。
5.3加入释放剂
待测元素和干扰元素在火焰中稳定的化合物时，加入另一种物质使之与干扰元素反应，生成更挥发的化合物，从而使待测元素从干扰元素的化合物中释放出来，加入的这种物质叫释放剂。常用的释放剂有氯化镧和氯化锶等。采用加入释放剂来消除干扰，必须注意的是释放剂的加入量。另入一定量才能起释放作用，但有可能因加入过量而降低吸收信号。最佳加入量要通过实验来确定。
5.4加入保护剂
加入一种试剂使待测元素不与干扰元素生成难挥发的化合物，可保护待测元素不受干扰，这种试剂叫保护剂。保护剂的作用机理有三：一是保护剂与待测元素形成稳定的络合物，阻止干扰元素与待测元素形成难挥发化合物。二保护剂与干扰元素形成稳定的化合物，避免待测元素与干扰元素形成难挥发的化合物；三是保护剂与待测元素和干扰元素形成各自的稳定络合物，避免待测元素与干扰元素形成难挥发的化合物。需要指出的是使用有机保护剂，因有机络合物容易解离而使待测元素更易原子化。
5.5加入缓冲剂
于试样和标准溶液加入一种过量的干扰元素，使干扰影响不再变化，进而抑制或消除干扰元素对测定结果的影响，这种干扰物质称为缓冲剂。需要指出的是，缓冲剂的加入量，必须大于吸收值不再变化的干扰元素的最低限量。应用这种方法往往明显地降低灵敏度。
5.6采用标准加入法
首先说明的是，标准加入法只能消除“与浓度无关”的化学干扰，而不能消除“与浓度有关的化学干扰。但是由于标准加入法在克服化学干扰方面的局限性，因此在实际工作中必须检测标准加入法测定结果的可靠性。一般是通过观察稀释前后测量的结果是否一致来断定。
