摘 要：本文采用原子力显微镜（AFM）对Si基外延GaN的形貌及出现的V缺陷进行研究。实验结果表明， GaN外延层厚度为0.5μm时粗糙度最低且没有裂纹出现；厚度为0.4μm的GaN表面出现小坑——V缺陷，密度约为10 8cm-2The application of atomic force mic……
摘 要：介绍国内外胶囊内窥镜技术的发展现状，着重介绍M2A胶囊内窥镜和NORIKA3胶囊内窥镜的内部结构，通过对几种主要胶囊内窥镜产品技术参数的比较，分析胶囊内窥镜的关键技术及发展趋势。Abstract：This article mainly introduces the progress of c……
刘岁林 田云飞 陈红等摘 要：本文简述原子力显微镜的工作原理，对比说明敲击模式的优越性，指出针尖－样品卷积效应和假象产生的原因，并例证其应用领域及其测试效果。The principle and using technology of atomic force microscopyAbstract：T……
